第1个回答 2023-01-16
D.对于过程的均值偏离目标情况及过程的标准差不能作出判断
10.从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（C）。
A.过程处于统计控制状态
B.具有足够的生产能力
C.过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力
D.过程处于统计控制状态，不必考虑过程能力
四、多项选择题
1.下列情况中可以判异的有（BCE）。
A.连续5点中有4点落在中心线同一侧的B区以外
B.连续15点落在中心线两侧的C区内
C.连续9点落在中心线同一侧
D.连续3点递增或递减
E.连续14点中相邻点交替上下
2.以下关于规范限和控制限的说法中，正确的是（AC）。
A.规范限来自客户要求，而控制限基于过程波动
B.规范限是对单个产品而言，控制限是由统计量设定的
C.规范限用于判定是否合格，控制限用于判定过程是否稳定
D.规范限来自顾客需求，所以比控制限范围宽
E.规范限与控制限的定义类似，两者具备相同的功能
3.下列关于过程能力指数的分析，正确的是（ABC）。
A.若计算出的Cp=0.89,Cpk=0.84,则说明该过程σ太大，低该过程的波动应首先考虑降低该过程的波动
B.若计算出的Cp=1.5,Cpk=0.84,则说明该过程均值偏离规范中心太多，应首先考虑改善过程均值，使之靠近规范中心
C.若计算出的Cp=0.89,Cpk=0.32,则说明该过程的均值和σ均有问题，既应考虑改善过程均值，也应设法降低过程波动
D.若计算出的Cp=0.32,Cpk=0.32,则说明该过程的均值和σ均有问题，应首先设法降低过程波动，然后考虑改善过程均值
E.只要Cpk的计算结果<1.33,应该首先考虑降低过程波动
4.过程能力的大小与过程的波动有很大关系，以下哪种说法是正确的（AD）。
A.过程的标准差越大，过程能力越小
B.过程的标准差越大，过程能力越大
C.过程的标准差越小，过程能力越小
D.过程的标准差越小，过程能力越大
E.过程能力的大小与过程标准差无关
5.在芯片生产车间，每天抽8块芯片检查其瑕疵点个数。为了监测瑕疵点数，对于控制图的选用，下列正确的是（AB）。
A.使用c控制图最方便
B.也可以使用u控制图，效果和c控制图相同
C.也可以使用p控制图，效果和c控制图相同
D.使用np控制图，效果和c控制图相同E.使用p或np图都可以
五、简答题
1.从统计过程控制的角度来说明区分影响质量的因素可以分为哪两类和用来区分这两类因素的方法是什么，并说明统计控制状态的定义。
分为：偶然原因（一般原因）、特殊原因（异常原因）；用于区分这两类因素的方法是控制图；统计控制状态是指过程只有偶然原因没有异常原因。
2.请简单说明合理子组原则的概念，并说明实现合理子组的方法。
合理子组是指在抽取样本时要使组内波动仅由偶然原因引起；实现合理子组原则的方法是：在短时间内抽取一个子组所需的全部个体，或是对连续生产产品进行“块抽样”。
六、计算分析题
1.已知某质量特性的公差要求为1±0.2mm,假设该质量特性服从正态分布，对该质量特性进行过程能力分析发现：