数字IC设计流程(全),芯片设计流程,集成电路设计流程

如题所述

深入了解数字IC设计的全流程,我们从芯片设计的起点开始探讨:

前端设计阶段首先由甲方明确需求,定义芯片的规格,包括功能和性能指标。接着,架构工程师设计架构,划分模块并定义接口时序,编写实现模块功能的RTL代码。功能仿真在此阶段进行,使用VCS或Questasim等工具验证逻辑正确性,同时Verdi作为主要的debug工具。

之后,工程师会进行跨时钟域(CDC)检查和语法校验,利用Spyglass工具。紧接着,通过DC工具将RTL代码转化为门级网表,进行静态时序分析(STA),使用PT工具检查时序路径以确保没有违例。形式验证(LEC)环节则通过Formality确保RTL和Netlist功能一致。

进入中端,设计可测试性成为关键,通过DFT工具插入测试元素,确保大规模集成电路的可测试性。布局阶段决定电路模块的位置,时钟树综合确保时钟信号均匀分布。布线和寄生参数提取则关注信号完整性问题。

后端设计包括静态时序分析的精确执行,以及电路功能变更后的功能验证。时序仿真检查SDF文件,而临近流片阶段的ECO可能涉及直接修改网表。物理验证通过DRC和ERC确保设计符合工艺规则,最后是决定芯片命运的流片阶段。

值得注意的是,设计流程中有些环节如仿真持续进行,有些如STA和LEC可能需要反复检查,而ECO等环节可能根据情况灵活处理。DFT的归属则存在争议,它可能涉及前端、中端或后端的不同角色。
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