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电子显微镜半导体线宽测量
晶圆检测设备的类型和特点有哪些?
答:
AFM与SEM各有所长:AFM提供三维立体成像,SEM则以其大景深的二维图像而闻名,特别是在
半导体线宽
监控的CD-SEM上,自动
测量
和优化算法为精度提升带来了新可能。
电子显微镜
原理上,电子束与物质的交互产生图像,信号源自二次电子等细节。电子束图形晶圆检测设备,如ASML和应用材料公司的产品,凭借高分辨率和隐...
透射
电镜
主要应用领域有哪些
答:
纳米材料分析 现在纳米材料(陶瓷、金属及有机物)、纳米粉体、介孑L材料、纳米涂层、碳纳米管、薄膜 材料、
半导体
芯片
线宽测量
等领域已得到了广泛应用。即使一般材料研究,要得到更多
显微
结构信息的高分辨率照片,也需要场发射TEM。 晶体缺陷分析 A1:O,/SiC陶瓷中纳米SiC对基体A1,O,的强化作用...
半导体线宽
产生原因
答:
半导体线宽
产生原因是需要进行调制来传输信号的。根据查询相关公开信息显示,带宽指的是加载到激光器上的最高调制频率,超过这个频率,信号传输就会乱码。另外带宽与线宽是不一样的,线宽实际上是激光器的谱宽,通常对于不同种类不同应用的激光器会有线宽限制要求,调制分文直接调制和间接调制,通常低速(10G...
透射
电镜
和扫描电镜的特点及应用(越全越好)
答:
1、透射
电子显微镜
电子束的波长要比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。透射电子显微镜在材料科学、生物学上应用较多。由于电子易散射或被物体吸收,故穿透力低,样品的密度、厚度等都会影响到最后的成像质量,必须制备更薄的超薄切片,通...
共聚焦
显微镜
有哪些用途?
答:
以共聚焦显微技术为原理的共聚焦
显微镜
,在陶瓷、金属、
半导体
、芯片等材料科学及生产检测领域中有着广泛的应用。它能对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,从而获取反映器件表面质量的2D、3D参数,实现器件表面形貌3D
测量
。广泛应用于半导体制造及封装...
亚微米线可以用光学
显微镜
操作吗
答:
1、高分辨率观察的显微镜,常规显微镜的分辨率0.35微米是极限,激光共聚焦显微镜的分辨率为0.1-0.2微米,所以在亚微米级观察上可以代替
电子显微镜
(无法做元素分析)。2、高精度表面形态测量,检测细微表面的高度差异,
线宽测量
、体积、表面积,异物,杂质等的大小,表面粗糙度分析。3、三维形貌显微镜 ...
荧光
显微镜
和激光共聚焦显微镜的区别
答:
1、共焦
显微镜
在反射光的光路上加上了一块半反半透镜,将已经通过透镜的反射光折向其它方向,在其焦点上有一个带有针孔的挡板,小孔就位于焦点处,挡板后面是一个 光电倍增管。可以想像,探测光焦点前后的反射光通过这一套共焦系统,必不能聚焦到小孔上,会被挡板挡住。于是光度计
测量
的就是焦点处的...
半导体
市场前景分析
答:
半导体生产企业销售自己生产的半导体产品(含单晶矽片),2010年前按17%法定税率徵收增值税,对实际税负超过3%的部分即徵即退;对投资超过80亿人民币或
半导体线宽
小於0.25微米的,企业所得税为“五免五减半”。 3、对经认定的半导体生产企业引进半导体技术和成套生产设备,单项进口的半导体专用设备与仪器,除国务院规定的《外...
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